ژورنال یاب
☰
ژورنال یاب جستجو و انتخاب مجله
خدمات مقاله
سایر خدمات
لیست مجلات
لیست مجلات علمی پژوهشی مجلات مورد تایید وزارت علوم مجلات مورد تایید وزارت بهداشت
مجلات فنی و مهندسی
مجلات علوم انسانی
مجلات علوم پایه
مجلات پزشکی و پیراپزشکی
مجلات کشاورزی و منابع طبیعی مجلات معماری و هنر مجلات دامپزشکی مجلات Open Access
مجلات معتبر دانشگاهی
همکاری و استخدام
درباره ژورنال یاب
تماس با ما
صفحه اختصاصی نشریه

Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems

اطلاعات علمی و ساختاری نشریه Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems، حوزه فعالیت و نکات مهم پیش از ارسال مقاله را بررسی کنید. اگر این نشریه با موضوع مقاله شما هم‌خوان است، می‌توانید درخواست بررسی و ارسال مقاله را مستقیماً از همین صفحه ثبت کنید.

علوم پایه فیزیک Google Scholar magiran SID
رتبه / اعتبار ب، علمی پژوهشی
زبان انتشار انگلیسی
تناوب انتشار دو فصلنامه
نوع انتشار چاپی و الکترونیکی
Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems
ارسال مقاله از طریق ژورنال یاب

آماده سازی و ارسال مقاله به Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems را از همین صفحه آغاز کنید

اگر این نشریه را برای مقاله خود انتخاب کرده اید، می توانید آماده سازی نهایی فایل، تنظیم فرمت، ترجمه یا بهبود مقاله و سپس فرایند ارسال و پیگیری را مستقیماً از طریق ژورنال یاب انجام دهید.

شروع ارسال مقاله

مشخصات نشریه Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems

آخرین اطلاعات ارزیابی و مشخصات ثبت شده نشریه در وزارتین

ناشر
Alzahra University
صاحب امتیاز
دانشگاه الزهرا(س)
p-ISSN
26454173
e-ISSN
26454181
حوزه علمی
علوم پایه، فیزیک
نمایه‌ها
Google Scholar، magiran، SID
سایر نمایه‌ها
Publons MSRT DOI
وب‌سایت نشریه
http://jitf.alzahra.ac.ir/
درخواست برای همین نشریه

بررسی مقاله و شروع مسیر ارسال به Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems

اگر مقاله خود را برای این نشریه انتخاب کرده اید، فایل و اطلاعات تماس را ثبت کنید. وضعیت مقاله شما مشخص می کند که مسیر از ارسال مستقیم آغاز شود یا ابتدا تنظیم فرمت، ویرایش، ترجمه یا بهبود مقاله انجام شود.

  • درخواست با نام همین نشریه ثبت می شود
  • وضعیت آمادگی مقاله پیش از ارسال مشخص می شود
  • در صورت انتخاب شما، آماده سازی، ارسال و پیگیری مراحل بعدی توسط ژورنال یاب انجام می شود
برای شروع، کافی است وضعیت فعلی مقاله را در فرم مشخص کنید و در صورت امکان فایل مقاله را نیز پیوست نمایید.

ثبت مقاله برای Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems

اطلاعات تماس را وارد کنید، وضعیت مقاله را برای ارسال به این نشریه مشخص کنید و در صورت امکان فایل مقاله را نیز پیوست نمایید.

وضعیت مقاله برای ارسال به این نشریه *
فرمت‌های PDF، DOC و DOCX تا سقف 10 مگابایت
در صورت نیاز، موضوع مقاله یا نکته مهم درباره وضعیت فعلی آن را کوتاه بنویسید.

درخواست شما با نام همین نشریه ثبت می شود تا بررسی مقاله برای مسیر ارسال بدون انتخاب مجدد مجله آغاز شود.

شرایط چاپ مقاله در نشریه Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems

برای ارسال مقاله به Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems، ابتدا موضوع، ساختار و هدف مقاله را با حیطه فعالیت این نشریه تطبیق دهید. صاحب امتیاز نشریه دانشگاه الزهرا(س) است. زبان انتشار ثبت شده انگلیسی است. نوع انتشار چاپی و الکترونیکی ثبت شده است.

p-ISSN این نشریه 26454173 و e-ISSN آن 26454181 است. حوزه علمی ثبت شده برای این نشریه علوم پایه، فیزیک است. رتبه یا اعتبار ثبت شده نشریه ب، علمی پژوهشی است. نمایه های ثبت شده در ژورنال یاب شامل Google Scholar، magiran، SID، Publons MSRT DOI است.

اگر مقاله شما برای Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems انتخاب شده است، می توانید از فرم همین صفحه وضعیت مقاله را مشخص کنید و آماده سازی نهایی، تنظیم فرمت، ترجمه، بازبینی، ارسال و پیگیری مراحل بعدی را متناسب با نیاز مقاله از طریق ژورنال یاب آغاز نمایید.

حیطه فعالیت نشریه Journal of Interface, Thin Film and Low Dimension Systems

مجله فصل مشترک ها، لایه های نازک و سیستم های با بعد کم یک مجله بین المللی است که به انتشار مقالات تئوری ،فن آوری ،آزمایش و سنتز،شناسایی و برنامه های کاربردی،در زمینه سطح و مرز مشترک و لایه های نازک و سیستم های با بعد کم اختصاص داده شده است.

خدمات تخصصی مقاله از شروع تا چاپ

از استخراج و نگارش تا انتخاب نشریه، ارسال، پیگیری و چاپ، هر مرحله‌ای را که نیاز دارید می‌توانید به ژورنال یاب بسپارید.

مسیرهای سریع انتخاب و بررسی مجلات

بر اساس نوع فهرست یا مرجع ارزیابی، مسیر مناسب را انتخاب کنید و مستقیماً وارد مجموعه مجلات مرتبط شوید.

ارتباط با مشاور